芯片高温老化寿命试验（HTOL），芯片可靠性验证：HTOL、HAST、HTSL、TC

高温老化寿命试验(HTOL)

参考标准：JESD22-A108；

测试条件：

For devices containing NVM,endurance preconditioning must be performed before HTOL per Q100-005.

Grade 0:+150℃Ta for 1000 hours.

Grade 1:+125℃Ta for 1000 hours.

Grade 2:+105℃Ta for 1000 hours.

Grade 3:+85℃Ta for 1000 hours.

Vcc(max)at which dc and ac parametric are guaranteed.Thermal shut-down shall not occur during this test.

TEST before and after HTOL at room,hot,and cold temperature.

广州广电计量检测股份有限公司（GRGT）是原信息产业部电子602计量站，经过50余年的发展，现已成为一家全国化、综合性的国有第三方计量检测机构，专注于为客户提供计量、检测、认证以及技术咨询与培训等专业技术服务，在计量校准、可靠性与环境试验、元器件筛选与失效分析检测、车规元器件认证测试、电磁兼容检测等多个领域的技术能力及业务规模处于国内*水平。

GRGT目前具有以下芯片相关测试能力及技术服务能力：

芯片可靠性验证(RA)：

芯片级预处理(PC)&MSL试验、J-STD-020&JESD22-A113；

高温存储试验(HTSL),JESD22-A103；

温度循环试验(TC),JESD22-A104；

温湿度试验(TH/THB),JESD22-A101；

高加速应力试验(HTSL/HAST),JESD22-A110；

高温老化寿命试验(HTOL),JESD22-A108；

芯片静电测试(ESD)：

人体放电模式测试(HBM),JS001；

元器件充放电模式测试(CDM),JS002；

闩锁测试(LU),JESD78；

TLP；Surge/EOS/EFT；

芯片IC失效分析(FA)：

光学检查(VI/OM)；

扫描电镜检查(FIB/SEM)

微光分析定位(EMMI/InGaAs)；

OBIRCH；Micro-probe;

聚焦离子束微观分析(FIB)；

广州广电计量检测股份有限公司（GRGT）失效分析实验室AEC-Q技术团队，执行过大量的AEC-Q测试案例，积累了丰富的认证试验经验，可为您提供更专业、更可靠的AEC-Q认证试验服务。

GRGT团队技术能力：

集成电路失效分析、芯片良率提升、封装工艺管控

集成电路竞品分析、工艺分析

芯片级失效分析方案turnkey

芯片级静电防护测试方案制定与平台实验设计

静电防护失效整改技术建议

集成电路可靠性验证

材料分析技术支持与方案制定

半导体材料分析手法

芯片测试地点：广电计量-广州总部试验室、广电计量-上海浦东试验室。

机构名称：广州器审检测技术有限公司（报告单位拥有CNAS资质，国家级CMA资质，审评中心认可报告）

联系方式：何工 130-4935-4532 （点击拨打电话），QQ：527687553

关于我们：我们是一家综合性的医疗器械第三方检测机构，提供医疗设备的检测、信息咨询、注册代理等。优势项目：电磁兼容EMC检测，YY9706.102-2021检测，安全安规检测，GB9706.1-2020检测，软件安全测试GB/T25000.51-2016检测，性能及各种专用标准检测，环境试验 GB/T14710-2009等，各省审评中心认可检测报告，医疗器械产品注册检验报告（加盖国家级CMA资质章，审评中心认可），保障医疗产品全生命周期服务，欢迎来电咨询……